冷场发射扫描电子显微镜
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收费标准
机时0元/小时 -
设备型号
日本电子 -
当前状态
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管理员
马剑兰,许瑞梅 020-84110783 -
放置地点
南校区中山大学
- 仪器信息
- 预约资源
- 附件下载
- 公告
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名称
冷场发射扫描电子显微镜
资产编号
20046452
型号
日本电子
规格
分辨率1.5NM
产地
日本
厂家
日本电子
所属品牌
JEM-6330F型
出产日期
购买日期
2001-01-01
所属单位
分析测试中心
使用性质
科研
所属分类
GZYQ24,GZYQ,GZYQ22,22FB,CHONGFA
资产负责人
许瑞梅
联系电话
020-84110783
联系邮箱
pusxrm@mail.sysu.edu.cn
放置地点
南校区中山大学
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
- 备注
主要规格&技术指标
分辨率：1.5nm 放大倍数：x10 ~ x500,000 样品尺寸：< φ8 mm x 5 mm 最大尺寸：< 100 mm x 6 mm
主要功能及特色
冷场发射扫描电子显微分析
样本检测注意事项
场发射扫描电子显微镜，可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。
设备使用相关说明
400元/小时，其它请咨询业务办公室020-84113210。
备注
校内用户请登录http://lims.sysu.edu.cn/index.asp；校外用户请联系020-84113210。
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