微区扫描电化学显微镜（微区电化学测试系统）
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收费标准
机时0元/小时 -
设备型号
Advanced Measurement Technology.Inc. -
当前状态
-
管理员
王旭,俞宏英 13269500851 -
放置地点
南校区中山大学
- 仪器信息
- 预约资源
- 附件下载
- 公告
- 同类仪器
名称
微区扫描电化学显微镜（微区电化学测试系统）
资产编号
2021010076
型号
Advanced Measurement Technology.Inc.
规格
Versa SCAN
产地
美国
厂家
Advanced Measurement Technology.Inc.
所属品牌
Princeton Applied Research Versa SCAN
出产日期
购买日期
2021-02-25
所属单位
材料学院
使用性质
科研
所属分类
GZYQ24,GZYQ22,22FB,CHONGFA
资产负责人
俞宏英
联系电话
13269500851
联系邮箱
wanglu68@mail.sysu.edu.cn
放置地点
南校区中山大学
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
- 备注
主要规格&技术指标
1.扫描平台及控制系统
1.1定位系统：XYZ轴全部采用高精度的压电马达和闭环控制系统；
1.2扫描平台：钢质蜂窝状光学平台，采用抗震技术；
1.3扫描范围(X、Y)：≥100mm×100mm；
1.4扫描分辨率（X、Y、Z）:≤1nm；
1.5线性位移编码分辨率：50nm；
1.6最大扫速≥10mm/s；
1.7最大扫描范围(Z)：≥100mm。
2.SECM-扫描电化学测试模块
2.1支持2，3，4电极测试，浮地测试；
2.2最大输出电压:≥±11V；
2.3最大输出电流：≥1.9A；
2.4电流分辨率:≤125fA；
2.5极化电压:≥±10V；
2.6电流测量精确度:<±0.2%；
2.7最小时基：2us；
2.8最大电压扫描速率：≥4900V/s；
2.9电位扫描方式：具有LINEARSCAN线性扫描及STAIRCASE阶梯波扫描双重方式；
2.10差分静电计带宽：〉9MHz；
2.11输入阻抗：≥1012//5pF；
2.12扫描探针技术包括x,y和z线、面扫描，z探针逼近曲线；
2.13操作模式:等距离和等高模式，探针与样品接触压力:约2.55x104Nm-2。
3.LEIS-微区阻抗测试模块
3.1频率范围：≥10μHz—1MHz；
3.2交流振幅范围：0.1mV-1V。
4.SVET扫描振动参比电极模块
4.1频率范围：≥0.001Hz-250KHz；
4.2满刻度灵敏度：10nV-1V。
5.SKP扫描开尔文探针
5.1静电计量程：+/- 10V；
5.2静电计增益：1倍～10,000倍（十进位）。
1.1定位系统：XYZ轴全部采用高精度的压电马达和闭环控制系统；
1.2扫描平台：钢质蜂窝状光学平台，采用抗震技术；
1.3扫描范围(X、Y)：≥100mm×100mm；
1.4扫描分辨率（X、Y、Z）:≤1nm；
1.5线性位移编码分辨率：50nm；
1.6最大扫速≥10mm/s；
1.7最大扫描范围(Z)：≥100mm。
2.SECM-扫描电化学测试模块
2.1支持2，3，4电极测试，浮地测试；
2.2最大输出电压:≥±11V；
2.3最大输出电流：≥1.9A；
2.4电流分辨率:≤125fA；
2.5极化电压:≥±10V；
2.6电流测量精确度:<±0.2%；
2.7最小时基：2us；
2.8最大电压扫描速率：≥4900V/s；
2.9电位扫描方式：具有LINEARSCAN线性扫描及STAIRCASE阶梯波扫描双重方式；
2.10差分静电计带宽：〉9MHz；
2.11输入阻抗：≥1012//5pF；
2.12扫描探针技术包括x,y和z线、面扫描，z探针逼近曲线；
2.13操作模式:等距离和等高模式，探针与样品接触压力:约2.55x104Nm-2。
3.LEIS-微区阻抗测试模块
3.1频率范围：≥10μHz—1MHz；
3.2交流振幅范围：0.1mV-1V。
4.SVET扫描振动参比电极模块
4.1频率范围：≥0.001Hz-250KHz；
4.2满刻度灵敏度：10nV-1V。
5.SKP扫描开尔文探针
5.1静电计量程：+/- 10V；
5.2静电计增益：1倍～10,000倍（十进位）。
主要功能及特色
微区扫描电化学显微镜是能够为电化学和材料测试提供极高空间分辨率的测试平台。微区扫描电化学技术主要用来研究样品的局部现象，通过探针在样品表面扫描来采集局部样品的响应信号。同时，多种辅助器件安装在定位系统上，可以实现不同的扫描探针实验，主要包括扫描电化学显微镜实验（SECM）扫描振动电极实验（SVET），扫描开尔文探针实验（SKP）和微区电化学阻抗实验（LEIS）等。其中，扫描电化学测试模块由两台独立的电化学工作站组成，双电化学测试系统还可以单独使用进行常规电化学实验包括电化学噪声，电化学交流阻抗测试。
样本检测注意事项
微区扫描电化学显微镜是能够为电化学和材料测试提供极高空间分辨率的测试平台。微区扫描电化学技术主要用来研究样品的局部现象，通过探针在样品表面扫描来采集局部样品的响应信号。同时，多种辅助器件安装在定位系统上，可以实现不同的扫描探针实验，主要包括扫描电化学显微镜实验（SECM）扫描振动电极实验（SVET），扫描开尔文探针实验（SKP）和微区电化学阻抗实验（LEIS）等。其中，扫描电化学测试模块由两台独立的电化学工作站组成，双电化学测试系统还可以单独使用进行常规电化学实验包括电化学噪声，电化学交流阻抗测试。
设备使用相关说明
无
备注
样品测试
预约资源
附件下载
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