扫描电化学显微镜 Electrochemical Probe Scanner system
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收费标准
机时0元/小时 -
设备型号
HEKA Electronik GmbH -
当前状态
待修 -
管理员
曾晖,郑佳婷 13411384582 -
放置地点
珠海校区海琴五号109-8
- 仪器信息
- 预约资源
- 附件下载
- 公告
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名称
扫描电化学显微镜 Electrochemical Probe Scanner system
资产编号
2019049402
型号
HEKA Electronik GmbH
规格
ELP-1A
产地
德国
厂家
HEKA Electronik GmbH
所属品牌
HEKA
出产日期
购买日期
2019-10-21
所属单位
化学工程与技术学院
使用性质
科研
所属分类
GZYQ24,GZYQ,GZYQ22,22FB,CHONGFA
资产负责人
郑佳婷
联系电话
13411384582
联系邮箱
hxizh@mail.sysu.edu.cn
放置地点
珠海校区海琴五号109-8
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
- 备注
主要规格&技术指标
一、机械扫描定位系统1、X/Y/Z 三轴扫描系统：闭环电路控制的压电驱动系统; 超高分辨率= 1 nm2、X/Y/Z轴最大动态扫描范围：100 μm x 100 μm x 100 μm3、Z-轴（形貌成像轴）设计构架：配备高分辨率马达系统(2.5纳米光栅分辨率，动态移动范围=50mm) 叠加超高分辨率压电驱动系统(1纳米分辨率)，从而快速完成全自动探针逼近过程；4、XY坐标轴可扩展移动范围：手动调节旋钮可额外扩展 X/Y范围至12.5 mm二、双恒电位仪工作站1、不对称双通道工作站，专为研究纳米颗粒的电化学活性，单分子检测，以及纳米级的形貌成像而设计 （0.15飞安培fA分
主要功能及特色
扫描电化学显微镜(Scanning Electrochemical Microscopy, SECM)是显微镜的一种。基于电化学原理工作，可测量微区内物质氧化或还原所给出的电化学电流。利用驱动非常小的电极（探针）在靠近样品处进行扫描，样品可以是导体、绝缘体或半导体，从而获得对应的微区电化学和相关信息，目前可达到的最高分辨率约为几十纳米。
样本检测注意事项
无
设备使用相关说明
暂无
备注
纳入中山大学设备共享平台，使用请参照中山大学相关规程进行申请
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