高分辨冷场发射扫描电镜系统
-
0/人使用者
-
0/次总次数
-
0/小时总时长
-
0/人收藏者
-
收费标准
机时0元/小时 -
设备型号
HITACHI High-Technologies Corporation -
当前状态
-
管理员
马剑兰,程小宁 15913141593 -
放置地点
南校区中山大学
- 仪器信息
- 预约资源
- 附件下载
- 公告
- 同类仪器
名称
高分辨冷场发射扫描电镜系统
资产编号
2021005048
型号
HITACHI High-Technologies Corporation
规格
主机+电镜用变压器+明场STEM探测器,光阑,反射板型暗场STEM探测器及样品台,YAG背散射电子探
产地
日本
厂家
HITACHI High-Technologies Corporation
所属品牌
HITACHI Regulus 8230
出产日期
购买日期
2021-01-29
所属单位
分析测试中心
使用性质
科研
所属分类
XSB24,GZYQ24,GZYQ22,22FB,CHONGFA
资产负责人
程小宁
联系电话
15913141593
联系邮箱
chengxn7@mail.sysu.edu.cn
放置地点
南校区中山大学
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
- 备注
主要规格&技术指标
分辨率:0.7nm@15kV;0.9nm@1kV;能谱(a)斜插式,探测器有效面积不小于60mm2,能量分辨率优于129eV
(b)平插环形探头
(b)平插环形探头
主要功能及特色
冷场发射高分辨扫描电镜,可对纳米材料/介孔材料等进行形貌观察。配备空间分辨率为10nm的平插能谱和YAG背散射电子探测器,可进行纳米级别材料的能谱分析和背散射电子图像观察。
样本检测注意事项
冷场发射高分辨扫描电镜,可对纳米材料/介孔材料等进行形貌观察。配备空间分辨率为10nm的平插能谱和YAG背散射电子探测器,可进行纳米级别材料的能谱分析和背散射电子图像观察。
设备使用相关说明
1200元/小时(校外),300元/小时(校内),能谱100元/点
备注
样品测试
预约资源
附件下载
公告
同类仪器